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日本AND愛(ài)安德電子天平校準(zhǔn)的區(qū)別

更新時(shí)間：2024-08-16 點(diǎn)擊次數(shù)：598次

日本電子天平校準(zhǔn)的方式分析

所有品牌產(chǎn)品的電子電子中，電子天平的校準(zhǔn)方式分為內(nèi)校和外校

內(nèi)校是指利用電子天平內(nèi)部安裝的校準(zhǔn)砝碼并遵循內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)程序進(jìn)行校準(zhǔn)。校準(zhǔn)時(shí)只需按一下校準(zhǔn)鍵，電機(jī)會(huì)驅(qū)動(dòng)帶內(nèi)置砝碼的升降裝置，對(duì)天平進(jìn)行加載，從而實(shí)施并完成校準(zhǔn)。

外校是指利用外部砝碼對(duì)天平本身誤差進(jìn)行修正的方式進(jìn)行校準(zhǔn)。此方法需事先檢查外部砝碼是否通過(guò)檢定，并在檢定有效期內(nèi)，主要是為了確保砝碼滿足相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)實(shí)物量具的控制要求。開(kāi)始校準(zhǔn)時(shí)先按下校準(zhǔn)鍵，再通過(guò)手動(dòng)把*量程的砝碼放到電子天平秤盤上，來(lái)完成校準(zhǔn)過(guò)程。

外部砝碼可能會(huì)受到灰塵沾染、日常磨損和酸堿腐蝕等自然因素的不良影響，所以為了保證計(jì)量工作的準(zhǔn)確性，外部砝碼也需要定期進(jìn)行校準(zhǔn)，常常需有相關(guān)資質(zhì)的計(jì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)做測(cè)試；再加上人為拿錯(cuò)砝碼的可能性，因此外校型天平對(duì)人為操作的要求會(huì)更加苛刻。而內(nèi)置砝碼的天平一般不會(huì)出現(xiàn)這些情況，并可以通過(guò)修改天平的校正程序參數(shù)來(lái)修正偏差。

綜上所述，內(nèi)校可以有效避免不確定因素所造成的誤差，相比外校是一種更加節(jié)約成本的方法。

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